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Ram Stress Test是一款由美国Ultra-X公司开发的内存检测测试评测软件,它以前是专门为内存生产厂家开发制作的,后来流落到民间,深受广大爱好者们的喜爱!
Ram Stress Test(内存检测测试评测软件)说明:
1、点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮,点不亮的可以用一根好的内存去带动它(可解决部分点不亮问题)。必须SD的带SD的,DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。
2、发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。
3、程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试CPU的 L2 cache。
4、软件为光盘镜像文件,用刻录机做成成启动光盘(如需要软盘版的请留言说明),使用非常简易,电脑只要设定为软、光盘启动,插入制作好的盘即可自动运行。它是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量都能测!
5、可以测试SD及DDR内存。
6、闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数:0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒代、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒
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